Name

TAJIMA, Saki

Official Title

Research Associate

Affiliation

(School of Fundamental Science and Engineering)

On-campus Research System

Special Research Project

耐放射線性をもつラッチ回路設計に関する研究

2017

Research Results Outline:本研究では、微細化と共に信頼性を低下させる問題の一つである放射線起因のソフトエラーに関して、メモリであるラッチ・フリップフロップ回路に焦点を当て、エラ本研究では、微細化と共に信頼性を低下させる問題の一つである放射線起因のソフトエラーに関して、メモリであるラッチ・フリップフロップ回路に焦点を当て、エラー耐性・低電力化・高速化メモリ回路技術の研究開発を行った。特に、既存技術の問題点を解決する革新的な...本研究では、微細化と共に信頼性を低下させる問題の一つである放射線起因のソフトエラーに関して、メモリであるラッチ・フリップフロップ回路に焦点を当て、エラー耐性・低電力化・高速化メモリ回路技術の研究開発を行った。特に、既存技術の問題点を解決する革新的な技術として「Ⅰ:超高速・低電力技術」「Ⅱ:耐性とSEU・SETの両方考慮した技術」を提案した。本研究は、回路の多重化とるものではなく、エラー発生時に回路自身が内部の値を参照し回復を行い、さらには二回のサンプリングによってSEUだけでなくSETにも耐性をもつ、高い処理性能・消費電力・ソフトエラー耐性を達成する回路を開発した。